18013570085
功能及特点：
手持式四探针测试仪能够测量半导体材料体电阻率ρ、方块电阻（薄片电阻率）R 口，按国家标准和美国A.S.T.M标准设计，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻率）的新型仪器。 可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（FTO/ITO导电膜玻 璃）、金属膜……等同类物质的薄层电阻（表面 电阻率）。
1、轻便手持式设计操作、测试简便；
2、特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜；
3、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；
4、测量范围：按方块电阻量值大小分为二个量程档 方块电阻 1.00～199.99Ω/□；
5、最小分辨率：0.01Ω/□
手持式四探针测试仪能够测量半导体材料体电阻率ρ、方块电阻（薄片电阻率）R 口，按国家标准和美国A.S.T.M标准设计，专门测量半导体薄层电阻（表面电阻率）的新型仪器。 可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（FTO/ITO导电膜玻 璃）、金属膜……等同类物质的薄层电阻（表面 电阻率）。
1、轻便手持式设计操作、测试简便；
2、特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜；
3、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；
4、测量范围：按方块电阻量值大小分为二个量程档 方块电阻 1.00～199.99Ω/□；
5、最小分辨率：0.01Ω/□
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